GB/T 11344-2021中A扫描的超声波仪器的设置

7.1 带A扫描显示的超声仪器设置

7.1.1 带A扫描显示的超声仪器与直接接触单晶片探头的组合

7.1.1.1 显示起点与初始脉冲同步,时基线应是线性的。整个厚度范围均在入扫描上显示。

7.1.1.2 对延时控制进行微调,减去保护膜中的传播时间。校准试块至少提供覆盖所测厚度范围的两个厚度,以校准整个测量范围的精度。

7.1.1.3 探头放在已知厚度的试块上,调整仪器控制(声速校准、范围、扫描或声速)直到回波显示适当的厚度读数。

7.1.1.4在读数值小于该厚度值的试块上检查和调整,以提高系统的精度。必要时在阶梯试块的中间厚度上再进行验证。

7.1.2 带A扫描显示的超声探伤仪与延时块单晶片探头组合

7.1.2.1 使用延时块单晶片探头时,仪器应能校正通过延时块的时间,以便延时结束时能对应零厚度仪器应具备"延时”控制,或电子自动调零功能。

7.1.2.2 若可预先调整到某给定材料的声速,则可通过调整延时控制直到仪器显示正确厚度值的方法标定:若无法设定声速,也可采用如下方法进行仪器设置。

a)至少使用两个试块。一个试块厚度不小于测量范围的最大值,另一个试块厚度不大于测量范围的最小值。为方便起见,厚度宜是整数,使厚度之差也是整数值。

b)探头依次放在两个试块上,分别调整声速校准功能,取得两者厚度读数差。调整直至厚度读数差等于实际厚度差,材料厚度范围调整正确。

7.1.2.3 另一种延时块探头的调整方法是7.1.2.2规定方法的变化。按步骤进行一系列调整后,使用延时控制在薄试块上提供正确读数和“范围”控制功能在厚试块上校准读数。有时适度的过校准是有用的。当两个读数正确时,仪器调整完毕。

7.1.3 带A扫描显示的超声探伤仪与双晶探头的组合

7.1.3.1     7.1.2.2规定的方法也适用于双晶探头测量大于3mm厚度范围的仪器设置。由于声速传播的声程是V字型,因此对于小于3mm厚度测量存在固有的误差。传播时间与厚度不再成线性关系,测量的厚度越小，这种非线性越严重。如下图。

7.1.3.2在厚度接近且非常薄的有限范围内测量时,可在适当的薄试块上采用7.1.2.2规定的方法校准仪器,得出在有限范围内近似正确的校准曲线。此时测量较厚产品会产生误差。

7.1.3.3 若测量厚度范围较大,则按 7.1.2.2规定的方法校准。使用两块试块,一块为最大厚度,另一块的厚度为最大厚度和最小厚度的中间值。此时进行薄端测量会产生误差。

7.1.4 厚部件高精度测厚的仪器设置

7.1.4.1 基本设置按7.1.1规定的方法进行。校准试块应精确校准整个扫描距离的厚度值,即满屏大约10 mm或25 mme

7.1.4.2 基本设置完成后,调整扫描延时。例如被测产品标称厚度是50mm~60mm,校准试块是10 mm,厚度范围也是50mm~60 mm。调整延时控制使校准试块的第五次背面反射等于50 mm,与A扫描显示上参考零点重合,第六次背面回波应位于校准扫描线的右侧。

7.1.4.3 设置结束后可在已知近似总厚度的试块上进行验证。

7.1.4.4在未知试块上取得的读数应加上被延时在荧光屏以外的值。例如,如果读数是4mm,则总厚度为 54 mm。

7.1.5 高衰减材料测厚的仪器设置

高衰减材料可采用方法4(穿透法)进行测厚。发射脉冲指示可用于表示零时间脉冲,将其设置为零刻度,并将接收到的脉冲信号位置设置与刻度上的已知厚度对齐。

7.2 数字直读式超声测厚仪的设置

7.2.1 仪器应有“声速设定’(或“材料选择”或“声速校正’)和“零位校正”功能。

7.2.2 通常采用与被测产品材料相同的试块,一块厚度不小于待测厚度最大值,另一块不大于待测厚度的最小值。

7.2.3 探头置于较厚试块上,调整仪器的“声速设定”使

7.2.4 探头置于较薄试块上,调整仪器的“零位校正”使测厚仪显示读数

7.2.5 反复进行7.2.3和7.2.4,直到厚度量程的高低两端都得到正确读数为止。

7.2.6若已知材料声速,则可预先设定声速值,然后测量仪器附带的薄钢试块,调节“零位校正 使仪器显示出不同材料换算后的显示值。

7.3 带有A扫描的超声测厚仪的设置

直接显示厚度的入扫描测厚仪的设置见7.1和7.2

7.4 特殊检测条件下测厚时仪器的设置

特殊检测条件下测厚时仪器的设置见附录E。

7.5 仪器设置的核查

1）发生以下情况时应进行仪器设置的核查:

2）中所有测量工作完成时;

3）工作期间定期检查,每天至少一次;

4）在探头或探头线更换时;

5）被测材料类型改变时;

6）材料或仪器温度显著变化时;

7）仪器设置改变时;

8）按其他质量文件规定的核查时间